走進(jìn)JHM1101的AEC-Q100認(rèn)證：測試的點(diǎn)點(diǎn)滴滴

AEC-Q100，著名而嚴(yán)苛的、針對車用芯片可靠性的、世界通行的車規(guī)級測試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。

100%通過AEC-Q100全部測試項目的JHM1101芯片，是經(jīng)過了怎樣的“拷打”？讓我們一起走進(jìn)具體的測試環(huán)節(jié)，探究JHM1101的強(qiáng)悍。

預(yù)處理

預(yù)處理的第一步是看顏值，直接目測、電子顯微鏡下的檢查都是必不可少的。確認(rèn)沒有任何裂縫之類的損傷之后，這3個批次的JHM1101芯片，需要完成5個溫度循環(huán)、24小時的烘烤、再加上192小時的吸潮和3個循環(huán)的模擬回流焊。

情況如何？——芯片們在電測試中表現(xiàn)優(yōu)異，全部一次性通過。

預(yù)處理中的測試板供電

溫度循環(huán)

溫度循環(huán)測試是對JHM1101芯片進(jìn)行“溫度鍛煉”：通過循環(huán)流動的空氣從低溫到高溫再到低溫重復(fù)變化，溫度范圍-65℃~150℃，完成1000次循環(huán)試驗(yàn)，并且在試驗(yàn)前后需要對芯片進(jìn)行高溫(150℃)電測試。

溫度循環(huán)中的測試用芯片先后通過了高溫測試與加速條件下高低溫反復(fù)變化測試，經(jīng)歷了上千次的高低溫電測試。

無論溫度變化如何頻繁，JHM1101電介質(zhì)、導(dǎo)體和絕緣體等不同金屬界面之間始終保持著優(yōu)秀的接觸良率，每顆芯片的每次電測試都得到了【合格】的測試結(jié)果。

部分測試結(jié)果

加速環(huán)境應(yīng)力測試

芯片在高溫、高濕、高壓的極端環(huán)境中，是否能保持正常工作？類比高壓鍋?zhàn)鲆诲侂u湯，鍋里的場景吧。這個試驗(yàn)條件是溫度130℃、濕度85%、0.2兆帕高壓，芯片放置96小時，并且試驗(yàn)前后需要通過常溫、高溫(150℃)的電測試。

這樣的加速環(huán)境應(yīng)力測試，分為芯片不加電（無偏高加速應(yīng)力測試）和加電（有偏高加速應(yīng)力測試）兩部分，最終在超級高壓“桑拿”中沐浴過的JHM1101芯片，通過考驗(yàn)，安然進(jìn)入下一步測試。

與上一項相比，這次的考驗(yàn)不是僅僅是惡劣環(huán)境下的“放置”，而是更加重要的“正常工作”——這些JHM1101芯片，在130℃、85%濕度及高壓、外部供電5.5V的條件下，持續(xù)工作96小時，并進(jìn)行了數(shù)百次測試驗(yàn)證。

結(jié)論：JHM1101，一切正常！長期的惡劣環(huán)境下，依然值得信賴。

高溫貯存

被扔在150℃高溫中，苦苦地等待2000小時，最終會得到什么樣的結(jié)果？問問我們的JHM1101吧，它們沉著冷靜地通過了芯片高溫貯存測試。與此同時，試驗(yàn)前后需要對芯片進(jìn)行常溫與高溫(150℃)電測試，證明它們在正常工作。

高溫貯存測試給出了結(jié)論：JHM1101在高溫且?guī)啄瓴还ぷ鳁l件下依然能夠加電即正常工作，從貯存的角度再度證明了這款芯片的穩(wěn)定性。

2000小時后常高溫測試

早期失效率

早期失效是電子元器件、集成電路等等電子產(chǎn)品的質(zhì)量特點(diǎn)之一，針對這個問題的驗(yàn)證是必不可少的。三個批次的JHM1101在150℃，5.5V供電，持續(xù)工作48小時的試驗(yàn)條件下，全部合格、通過，完美驗(yàn)證JHM1101的可靠性。

高溫壽命測試

在150℃高溫環(huán)境下芯片能持續(xù)工作1000小時嗎？答案是肯定的。JHM1101通過了這樣的高溫壽命測試，它們在正常的5.5V供電下，持續(xù)工作1000小時，并且在之后的低溫(-40℃)、常溫（室溫）、高溫(150℃)各種電測試中也都一切正常。

高低溫電測試與上千小時的持續(xù)工作時間證明，高溫條件下JHM1101依然擁有穩(wěn)定而符合標(biāo)準(zhǔn)的使用壽命。

AEC-Q100還包括引線、電遷移、靜電、電磁、無鉛、生產(chǎn)過程控制等等其他各個方面的測試和驗(yàn)證，JHM1101完成了各組實(shí)驗(yàn)檢測全部合格，達(dá)成了全部測試樣品百分百合格率，失效只數(shù)0的優(yōu)秀成績，順利通過了AECQ-100嚴(yán)苛的各項測試。

溫箱后的接線

溫箱內(nèi)放置測試板

無論是貯存還是工作使用，無論是高溫、高濕還是高壓使用環(huán)境，JHM1101在AEC-Q100的測試中全方面多角度體現(xiàn)出自身質(zhì)量優(yōu)良、穩(wěn)定可靠、抗干擾能力強(qiáng)等諸多優(yōu)點(diǎn)。久好電子的芯片，高可靠性、高穩(wěn)定性、高性價比！

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